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          380-780nm光譜成像相機標準測量系統 (高分辨率/二維顏色測量 波長分辨率3.5nm) SPECT-CAM-100vis  

          380-780nm光譜成像相機標準測量系統 (高分辨率/二維顏色測量 波長分辨率3.5nm)  SPECT-CAM-100vis
          光譜成像是一種通過二維捕捉物體,獲取、分析和顯示物體各部分光譜信息的技術。通過對每個部分的數據進行光譜分析,可以獲得材料的物理化學信息,并將其顯示為圖像。該系統由內部開發的內置小型光譜成像單元(Spect-100vis)的光譜成像相機、相機控制軟件、主要用于可見光范圍內光譜成像處理的軟件和PC組成。極高分辨率測量和二維顏色測量都是可能的。


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          產品型號 1
          貨號 操作 名稱
          E80100178  光譜成像相機標準測量系統 380-780nm   [PDF] 測量波長范圍:380-780nm;獲取的圖像大?。ㄏ袼兀?600x1280(標準模式); 波長分辨率(nm):3.5(20u slit 狹縫);Min. 測量波長寬度(nm):0.425; 空間分辨率:約600 LW/PH ;外形尺寸 mm:160×120×190 (不包括突出部分);    價格 : ¥0 庫存/貨期:請咨詢客服
          總覽

          光譜成像是一種通過二維捕捉物體,獲取、分析和顯示物體各部分光譜信息的技術。通過對每個部分的數據進行光譜分析,可以獲得材料的物理化學信息,并將其顯示為圖像。

          該系統由內部開發的內置小型光譜成像單元(Spect-100vis)的光譜成像相機、相機控制軟件、主要用于可見光范圍內光譜成像處理的軟件和PC組成。

          極高分辨率測量和二維顏色測量都是可能的。


          產品特點

          緊湊型光譜成像單元(內置 SPECT-100vis)

          高分辨率:高空間軸分辨率和波長軸分辨率

          明亮的光學設計,雜散光少

          人性化的軟件設計


          產品應用

          二維比色法、色彩模擬、二維 CCM

          化妝品、藥品(皮膚相關)、食品(水果、液體)、醫藥品等


          通用參數

          測量分析內容

          380-780nm光譜成像測量(標準1600 x 1280像素x  波長數960Ch)(Max. 可測量2600 x 1280像素)

          轉換為每個通道或波長的圖像文件 ,380-780nm(5nm,每10nm),400-700nm(每20nm)

          使用黑白參考板轉換為反射率圖像

          感興趣區域的頻譜顯示(指出ROI后)

          二維測量后的色值計算(標準光A、C、D65、其他任意光源)XYZ、CIELab等

          使用任意顏色匹配函數的顏色合成

          其他?定量計算等(選項)


          光譜成像色彩計算軟件特點

          易于操作的基于Windows的設計

          可以進行二維分光測量和顏色評價。

          結果全部記錄,包括測量數據(原始數據)、中間計算、最終數據等。

          記錄數據采用可通過一般處理軟件(ImageJ、Excel等)確認的標準格式(圖像:16bit tiff_file、提取光譜:txt_file等)


          測量波長范圍380-780nm
          獲取的圖像大?。ㄏ袼兀?/td>1600x1280(標準模式)
          波長分辨率(nm)3.5(20u slit 狹縫)
          Min. 測量波長寬度(nm)0.425
          空間分辨率約600 LW/PH *1
          外形尺寸 mm160×120×190  (不包括突出部分)
          重量(公斤)2.4

          *1)每 200、480 和 760Ch(全波長范圍:960Ch)合成 BGR 圖像時)



          光譜成像軟件的內容



          1.380-780nm光譜圖像數據采集

          在待測圖像區域掃描并導入單色 16 位圖像,該圖像由空間軸和波長軸在一條直線(垂直軸)上組成。


          2.測量數據的確認

          讀取硬盤中所有記錄的測量數據,并使用3 種波長創建和顯示簡單的合成圖像

           

          3. 從原始測量圖像數據轉換每個波長的數據

          從所有捕獲的行數據(圖像 16 位,每個 0.425 納米(960 個圖像)由空間軸和波長軸組成)為每個波長(5nm、10nm、20nm)創建一個圖像(16 位 tiff)

           

          4. 使用黑白標準創建反射率圖像

          在要測量的圖像區域設置白色和黑色(0%)的標準(白板:Spectralon,黑色反射陷阱),并根據該標準計算每個部分的反射率。

           

           

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          指出ROI(感興趣區域)的反射光譜顯示/記錄

          顯示指出ROI(感興趣區域)內整個區域的反射(光譜)分布。指出 ROI 后,將顯示并記錄 ROI 內的反射率數據。使用每個 ROI 中指出的地址 (xy) 同時記錄光譜數據。

           

          指出區域的反射光譜顯示和色值顯示/記錄

          指出區域的反射光譜顯示,指出光源(D65,C,A)和視場(2或10度)的顏色計算和顏色值(Yxy)顯示, CIELab顯示和記錄數值

           

          顏色模擬計算

          指出指出的顏色匹配函數 (xyz) 或靈敏度函數 (sRGB),并通過與該函數相乘計算合成圖像(彩色圖像)。此功能的值可以像音頻圖形均衡器一樣自由更改。創建的彩色圖像記錄為 bmp 文件,指出間隔的最終數量記錄為 txt 文件。

           

           

          這個模擬計算有一篇詳細的文章。參考資料:

          1) Kazuji Matsumoto,“用于光譜成像的顏色合成模擬器的開發”,日本色度學會,Proc4-9 (2015)




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