Beam On WSR光斑分析儀 190-1600nm (最大幀速25Hz)
WinCamD-IR-BB 中遠紅外光束質量分析儀 2-16μm 7.5Hz
BeamOn 光束質量分析儀,光斑分析儀 190-1310nm/1550nm
DUMA BeamAnalyzer 刀口型光斑分析儀(光束質量分析儀) 190-1100nm/1200-2700nm
AlignMeter USB LA 激光指向穩定測量儀(對準/準直儀) 350-1100nm
Duma BeamOn U3-VIS NIR光束位置分析儀 350–1600nm (光斑分析儀)
DUMA M2 Beam U3光束質量分析儀 350–1600nm
DUMA 光束分析儀 BeamOn HR 1 Inch (UV to 1350nm)
WinCamD-QD 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀(輪廓儀)
WinCamD-UHR/XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀
BeamOn LA 強脈沖光及大尺寸激光光斑分析儀 VIS-NIR 350-1310nm
WinCamD-LCM系列 1" CMOS 相機型光束質量分析儀
TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質量分析儀 355-1150nm
BladeCam2-HR/XHR系列 CMOS 光斑分析儀(光束輪廓分析相機) 190-1605nm
Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR)
Cobra 1300系列 OCT 短波紅外光譜儀 950-1450nm
LASNIX L-FTS 緊湊型片層紅外光譜儀 0.4-300um
YOKOGAWA 橫河 AQ6375B 長波長光譜分析儀 1200-2400nm(停產 代替型號為AQ6375E)
橫河 AQ6376 長波長光譜分析儀 1500~3400nm (停產 代替型號為AQ6376E)
SRS1-vis可見光 空間分辨率光譜儀 380-780 nm
橫河光譜分析儀AQ6360/AQ6380 (1200-1650 nm)
橫河AQ6377 MWIR中波紅外光譜分析儀(1900 ~ 5500nm)
YOKOGAWA 橫河 AQ6373E 可見波長光譜分析儀 350-1200nm(波長精度±0.05nm 動態范圍60dB)
光學相干斷層成像系統(OCT) 高分辨率,大成像深度、高成像速度 840-1310nm
GouMax全波段小型化光譜儀(OSA)模塊 1260-1650nm
GouMax,C+L波段光譜儀(OSA)模塊 1525-1615nm
2um 光譜分析儀 (波長精度0.08nm 波長分辨率0.2nm)
YOKOGAWA 橫河 AQ6374E 寬范圍光譜分析儀 350-1750nm (VIS及光通信波段)